超阻抗絕緣計

用途：SM系列中之高階機種，量測範圍可達2x10^16Ω(1000V) 測試電壓涵蓋低壓及高壓，可對應全範圍絕緣分析。
機型：HIOKI SM-8220

漏電起痕試驗儀 (CTI Comparative Tracking Index)

用途: 在電器產品受潮濕和雜質的影響下，不同極性帶電部位之間或帶電部件與接地金屬之間可能會引起絕緣上的漏電，產生的電弧對電器造成擊穿短路或由於放電使材料電蝕損，甚至起燃導致火災。漏電起痕試驗就是針對上述情況對絕緣材料進行的一種破壞性試驗，用以測量固體電氣絕緣材料在電場作用下表面暴露於含雜質的水時的相對耐電痕化性能。
機型:ZLT-LDQ

介電強度試驗儀

用途: 測試材料在交流電壓或直流電壓下介電強度和耐電壓性質。
機型: 華測儀器.HCDJC-100KV

耐電弧試驗儀

用途: 測試材料在12.5kV高壓電弧下，材料表面變化。
機型: 華測儀器.HCDH-4

介電分析儀

用途: 測試材料在不同電壓(100V~5000V)、不同溫度下的介電常數、Tanδ
機型: 華測儀器.QS37A

體積、表面電阻率測定儀(高阻計)

用途: 測試材料在不同直流電壓(10V、50V、100V、250V、500V、1000V)不同溫度下的表面電阻、 體積電阻。
機型: 華測儀器.HEST-300